Диденко, И. С. Физика реального кристалла [Электронный ресурс] : лабораторный практикум / Диденко И. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. - 76 с. - ISBN 978-5-87623-747-7 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): дефект -- реальный кристалл -- физика Аннотация: Лабораторный практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по дисциплине «Физика реального кристалла». Изложены основы теории изучаемых явлений, описание аппаратуры и методик измерения. Цель лабораторного практикума – приобретение студентами практических навыков исследования механических и электрофизических свойств кристаллов, определения концентрации точечных дефектов в кристаллах оптическим методом и влияния точечных дефектов на оптические свойства кристаллов. В процессе выполнения лабораторных работ студенты осваивают методики измерения микротвердости, микрохрупкости, электропроводности и спектров поглощения диэлектрических кристаллов, а также приобретают навыки определения величин, характеризующих дефекты в кристаллах, в том числе определение концентрации точечных дефектов. Лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлениям подготовки магистров 223200.68 «Техническая физика», 150100.68 «Материаловедение и технологии материалов». Доп.точки доступа: Козлова, Н. С.; Кугаенко, О. М.; Петраков, В. С. Свободных экз. нет |
Иванов, А. Н. Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 79 с. - Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): дифракционный метод -- кристаллическая структура -- материал -- реальный кристалл -- рентгеновское излучение -- субструктура Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения. Доп.точки доступа: Поляков, А. М. Свободных экз. нет |