Анисович, А. Г. Рентгеноструктурный анализ в практических вопросах материаловедения [Электронный ресурс] / Анисович А. Г. - Минск : Белорусская наука, 2017. - 208 с. - ISBN 978-985-08-2112-6 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): анализ текстуры -- материаловедение -- металловедение -- расшифровка рентгенограммы -- рентгеновское излучение -- рентгенограмма -- рентгеноструктурный анализ -- фазовый анализ -- физика металлов Аннотация: Рассматривается применение рентгеноструктурного анализа к решению некоторых практических задач металловедения и физики металлов. Проиллюстрирована связь физико-механических свойств материалов с результатами рентгеноструктурных исследований. Рассмотрены некоторые аспекты интерпретации рентгеновских данных. Книга ориентирована на специалистов в области материаловедения, которые не являются специалистами в области рентгеноструктурного анализа, но хотели бы использовать его в своей работе. Свободных экз. нет |
Малышев, Л. Г. Физика атома и ядра [Электронный ресурс] : учебное пособие / Малышев Л. Г. - Екатеринбург : Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014. - 144 с. - ISBN 978-5-7996-1283-2 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): оптический спектр -- опыт резерфорда -- рентгеновское излучение -- тепловое излучение -- физика атома -- физика ядра -- формула планка -- эффект комптона Аннотация: В работе обсуждаются основные вопросы атомной и ядерной физики и рассматриваются возможности их экспериментального исследования с использованием современных многофункциональных лабораторных комплексов. Эти комплексы позволяют изучать особенности теплового излучения, законы фотоэффекта, закономерности спектров атомов и молекул. Применение компьютерного моделирования дает возможность реализовать опыты Резерфорда по рассеянию α-частиц на атомах, изучать комптоновское рассеяние и целый ряд других явлений. Доп.точки доступа: Повзнер, А. А. Свободных экз. нет |
Барсуков, В. И. Физика. Элементы атомной физики, физики ядра, физики твёрдого тела и жидкости [Электронный ресурс] : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по техническим направлениям подготовки и специальностям / Барсуков В. И. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2014. - 112 с. - ISBN 978-5-8265-1250-0 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): атомная физика -- постулат бора -- принцип паули -- рентгеновское излучение -- твёрдое тело -- физика -- физика атома -- физика жидкости -- физика ядра -- энергетический уровень Аннотация: Представляет собой материал по разделу «Строение и физические свойства вещества» курса общей физики, читаемого для студентов бакалавриата в соответствии с программой ФГБОУ ВПО. Рассмотрены основные понятия, связанные со строением атома и атомного ядра, с оптическими свойствами молекул, взаимодействием света с веществом, структурой вещества, теорией физики твёрдого тела и жидкости, с элементами квантовой физики. Приведены примеры решения задач и вопросы для самопроверки. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по техническим направлениям подготовки и специальностям. Доп.точки доступа: Дмитриев, О. С. Свободных экз. нет |
Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2019. - 146 с. - ISBN 978-5-9275-3202-5 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): детектор -- монохроматор -- рентгеновская спектроскопия -- рентгеновское излучение -- фотоэлектронная спектроскопия Аннотация: Учебное пособие содержит изложение материала, входящего в учебную программу курсов «Специальный физический практикум», «Физика рентгеновских лучей», «Синхротронное излучение в исследовании материалов», изучаемых студентами специальностей «Физика конденсированного состояния», «Физика», «Физика, химия и технология функциональных материалов» физического факультета и НИИ физики Южного федерального университета. Содержит контрольные вопросы и проектные задания. Предназначено для студентов, которые обучаются по программам бакалавриата и магистратуры в области физики конденсированного состояния, материаловедения, нанотехнологий. Создано при поддержке Южного федерального университета (ВнГр-07/2017-30). Доп.точки доступа: Яловега, Г. Э.; Мазурицкий, М. И.; Козаков, А. Т.; Шматко, В. А.; Кременная, М. А. Свободных экз. нет |
Синхротронное рентгеновское излучение и его применение для исследования почв и растений: возможности и перспективы [Электронный ресурс] : учебное пособие / Минкина Т. М. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2018. - 108 с. - ISBN 978-5-9275-2437-2 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): исследование почвы -- исследование ризосферы -- метод спектроскопии -- рентгеновская микрофлуоресценция -- рентгеновское излучение -- рентгеновское поглощение -- синхротронное излучение -- тяжелый металл Аннотация: В учебном пособии освещается применение инструментальных высокотехнологичных методов рентгеновского синхротронного излучения для исследования почв и растений. Особое внимание уделяется возможностям практического применения новейших методов рентгеноспектральной диагностики для исследования почвенных и растительных объектов на молекулярном и атомарном уровне. Учебное пособие предназначено для студентов магистратуры, обучающихся по направлению 06.04.02 «Управление и оценка земельных ресурсов», а также для студентов естественных факультетов, специализирующихся в области охраны окружающей среды. Доп.точки доступа: Минкина, Т. М.; Солдатов, А. В.; Невидомская, Д. Г.; Цицуашвили, В. С. Свободных экз. нет |
Беспалов, В. И. Лекции по радиационной защите [Электронный ресурс] : учебное пособие / Беспалов В. И. - Томск : Томский политехнический университет, 2017. - 695 с. - ISBN 978-5-4387-0786-8 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): безопасность -- защита -- радиационная защита -- радиация -- рентгеновское излучение Аннотация: В пособии рассмотрены физические величины в области защиты от излучений, нормы радиационной безопасности, методы расчета защиты от гамма-излучения радионуклидных источников, рентгеновского и тормозного излучения, защита ускорителей заряженных частиц, радиационные условия при космических полетах, защита от нейтронов, основные правила безопасной работы с ионизирующими излучениями. Пособие содержит большое количество таблиц и номограмм, необходимых для проведения расчетов защиты. Предназначено для студентов, бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности «Радиационная безопасность человека и окружающей среды». Свободных экз. нет |
Иванов, А. Н. Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 79 с. - Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): дифракционный метод -- кристаллическая структура -- материал -- реальный кристалл -- рентгеновское излучение -- субструктура Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения. Доп.точки доступа: Поляков, А. М. Свободных экз. нет |
Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2001. - 100 с. - Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): деформация -- дифракционный метод -- поверхностный слой -- приборная структура -- рентгеновское излучение Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Доп.точки доступа: Щербачев, К. Д. Свободных экз. нет |