Рабинович, О. И. Основы технологии электронной компонентной базы [Электронный ресурс] : методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум / Рабинович О. И. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. - 42 с. - ISBN 978-5-87623-710-1 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): компонентная база -- тонкопленочный материал -- электронная база Аннотация: В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций. Доп.точки доступа: Крутогин, Д. Г. Свободных экз. нет |
Рабинович, О. И. Основы технологии электронной компонентной базы: моделирование технологических процессов получения тонкопленочных материалов [Электронный ресурс] : учебно-методическое пособие / Рабинович О. И. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2012. - 81 с. - ISBN 978-5-87623-566-4 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): компонентная база -- модель -- технологический процесс -- тонкопленочный материал -- электроника -- эпитаксия Аннотация: В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника» в качестве бакалавров, магистров и инженеров, при выполнении лабораторных работ, подготовке магистерских диссертаций и дипломных работ. Доп.точки доступа: Крутогин, Д. Г.; Евсеев, В. А. Свободных экз. нет |