Филимонова, Н. И. Методы электронной спектроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 68 с. - Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): спектрометр -- твердое тело -- электрон -- электронная спектроскопия -- энергетическая потеря -- эос Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной спектроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов определения физических и структурных свойств материалов методами электронной спектроскопии. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур». Доп.точки доступа: Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е. Свободных экз. нет |
Луков, В. В. Физические методы исследования в химии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Луков В. В. - Ростов-на-Дону : Южный федеральный университет, 2016 ; Ростов-на-Дону : Издательство Южного федерального университета, 2016. - 216 с. - ISBN 978-5-9275-2023-7 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): инфракрасная спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- физический метод -- химия -- электрический метод -- электронная спектроскопия Аннотация: Учебное пособие соответствует требованиям ФГОС ВО и программе учебной дисциплины «Физические методы исследования в химии». Детально изложены основные теоретические понятия и рассмотрены методики таких современных методов исследования, как ИК-, ЯМР-, ЭПР-, EXAFS- и электронная спектроскопия, а также метода дипольных моментов. Предназначено для студентов, аспирантов и преподавателей химических факультетов университетов. Доп.точки доступа: Щербаков, И. Н. Свободных экз. нет |
Козаков, А. Т. Физические основы электронной спектроскопии заряженных поверхностей твердых тел [Электронный ресурс] : монография / Козаков А. Т. - Ростов-на-Дону : Южный федеральный университет, 2009 ; Ростов-на-Дону : Издательство Южного федерального университета, 2009. - 408 с. - ISBN 978-5-9275-0711-5 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): заряженная поверхность -- твердое тело -- физика -- электронная спектроскопия Аннотация: В монографии рассмотрены процессы, сопровождающие вылет электронов из заряженных поверхностей поляризованных электретов, сегнето-электриков. В первых главах рассмотрено устройство рентгеноэлектронного спектрометра, принципы функционирования энергоанализатора электронов, разработана методика получения спектров медленных электронов с нейтральных и заряженных поверхностей материалов. В процессе дальнейшего исследования разработанная методика применена для получения электронных спектров (спектров аномальной электронной эмиссии (АЭЭ)) с отрицательных поверхностей сегнетоэлектрических материалов (монокристаллов и керамик), обладающих электретными свойствами, и электретов. Изложена теория спектров АЭЭ, рассчитано распределение потенциала по заряженной поверхности поляризованных материалов. Рассмотрены прикладные аспекты применения спектров АЭЭ. Свободных экз. нет |
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур». Доп.точки доступа: Филимонова, Н. И. Свободных экз. нет |