Блесман, А. И. Теоретические основы методов исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Блесман А. И. - Омск : Омский государственный технический университет, 2017. - 78 с. - ISBN 978-5-8149-2506-0 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): дифрактометрия -- исследование -- материаловедение -- метод -- микроскопия -- наноматериал -- рентген -- электроника Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия». Доп.точки доступа: Даньшина, В. В.; Полонянкин, Д. А. Свободных экз. нет |