61116

    Достанко, А. П.
    Технологические комплексы интегрированных процессов производства изделий электроники [Электронный ресурс] / Достанко А. П. - Минск : Белорусская наука, 2016. - 252 с. - ISBN 978-985-08-1993-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
интегрированный процесс -- лазерная микрообработка -- наноструктура -- производство изделий -- технологический комплекс -- электроника
Аннотация: Рассмотрены и обобщены результаты исследований и разработок в области создания и функционирования современных технологических комплексов интегрированных процессов производства изделий электроники, начиная от очистки поверхности под ложек ультразвуком, СВЧ-плазмохимической обработки, магнетронного электронно-лучевого и импульсного лазерного формирования структур и состава слоев, высокочастотного локального нагрева, диффузионной сварки, а также интегрированного контроля микро- и наноструктур. Предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и других отраслей промышленности, специалистов научно-исследовательских институтов, аспирантов, магистрантов и студентов старших курсов технических вузов.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Аваков, С. М.; Агеев, О. А.; Батура, М. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Джуплин, В. Н.; Завадский, С. М.; Клим, О. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петухов, И. Б.; Ретюхин, Г. Е.; Русецкий, А. М.; Титко, Д. С.; Томаль, В. С.; Трапашко, Г. А.; Чередниченко, Д. И.; Школык, С. Б.; Достанко, А. П. \ред.\
Свободных экз. нет

88693

   
    Технологии субмикронных структур микроэлектроники [Электронный ресурс] / Достанко А. П. - Минск : Белорусская наука, 2018. - 271 с. - ISBN 978-985-08-2298-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- субмикронная структура -- технология -- электроника
Аннотация: Рассмотрены и обобщены результаты исследований и разработок в области технологии и оборудования для производства и диагностики субмикронных структур полупроводниковой микроэлектроники. Предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и других отраслей промышленности, специалистов научно-исследовательских институтов, аспирантов, магистрантов и студентов старших курсов технических вузов.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Достанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.; Достанко, А. П. \ред.\
Свободных экз. нет