Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог
Картотека журнальных статей
Систематический имидж-каталог
Авторефераты диссертаций
Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ
ЭБС IPRBooks
ЭБС Консультант студента
ЭБС Юрайт
Диссертации, защищенные в СПХФУ
Журнальный фонд СПХФУ
Библиотечный фонд техникума
ВКР
Область поиска
 Найдено в других БД:Электронный каталог (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 74087
Автор(ы) : Анисович А. Г.
Заглавие : Рентгеноструктурный анализ в практических вопросах материаловедения
Выходные данные : Минск: Белорусская наука, 2017
Колич.характеристики :208 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-985-08-2112-6: Б.ц.
УДК : 620.22
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ текстуры--материаловедение--металловедение--расшифровка рентгенограммы--рентгеновское излучение--рентгенограмма--рентгеноструктурный анализ--фазовый анализ--физика металлов
Аннотация: Рассматривается применение рентгеноструктурного анализа к решению некоторых практических задач металловедения и физики металлов. Проиллюстрирована связь физико-механических свойств материалов с результатами рентгеноструктурных исследований. Рассмотрены некоторые аспекты интерпретации рентгеновских данных. Книга ориентирована на специалистов в области материаловедения, которые не являются специалистами в области рентгеноструктурного анализа, но хотели бы использовать его в своей работе.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68498
Автор(ы) : Малышев Л. Г., Повзнер А. А.
Заглавие : Физика атома и ядра : Учебное пособие
Выходные данные : Екатеринбург: Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014
Колич.характеристики :144 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7996-1283-2: Б.ц.
УДК : 539.1
ББК : 22.383я73
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптический спектр--опыт резерфорда--рентгеновское излучение--тепловое излучение--физика атома--физика ядра--формула планка--эффект комптона
Аннотация: В работе обсуждаются основные вопросы атомной и ядерной физики и рассматриваются возможности их экспериментального исследования с использованием современных многофункциональных лабораторных комплексов. Эти комплексы позволяют изучать особенности теплового излучения, законы фотоэффекта, закономерности спектров атомов и молекул. Применение компьютерного моделирования дает возможность реализовать опыты Резерфорда по рассеянию α-частиц на атомах, изучать комптоновское рассеяние и целый ряд других явлений.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 63921
Автор(ы) : Барсуков В. И., Дмитриев О. С.
Заглавие : Физика. Элементы атомной физики, физики ядра, физики твёрдого тела и жидкости : Учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по техническим направлениям подготовки и специальностям
Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2014
Колич.характеристики :112 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8265-1250-0: Б.ц.
УДК : 535.338
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомная физика--постулат бора--принцип паули--рентгеновское излучение--твёрдое тело--физика--физика атома--физика жидкости--физика ядра--энергетический уровень
Аннотация: Представляет собой материал по разделу «Строение и физические свойства вещества» курса общей физики, читаемого для студентов бакалавриата в соответствии с программой ФГБОУ ВПО. Рассмотрены основные понятия, связанные со строением атома и атомного ядра, с оптическими свойствами молекул, взаимодействием света с веществом, структурой вещества, теорией физики твёрдого тела и жидкости, с элементами квантовой физики. Приведены примеры решения задач и вопросы для самопроверки. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по техническим направлениям подготовки и специальностям.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 95819
Автор(ы) : Яловега Г. Э., Мазурицкий М. И., Козаков А. Т., Шматко В. А., Кременная М. А.
Заглавие : Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения : Учебное пособие
Выходные данные : Ростов-на-Дону, Таганрог: Издательство Южного федерального университета, 2019
Колич.характеристики :146 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-3202-5: Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): детектор--монохроматор--рентгеновская спектроскопия--рентгеновское излучение--фотоэлектронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит изложение материала, входящего в учебную программу курсов «Специальный физический практикум», «Физика рентгеновских лучей», «Синхротронное излучение в исследовании материалов», изучаемых студентами специальностей «Физика конденсированного состояния», «Физика», «Физика, химия и технология функциональных материалов» физического факультета и НИИ физики Южного федерального университета. Содержит контрольные вопросы и проектные задания. Предназначено для студентов, которые обучаются по программам бакалавриата и магистратуры в области физики конденсированного состояния, материаловедения, нанотехнологий. Создано при поддержке Южного федерального университета (ВнГр-07/2017-30).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 87494
Автор(ы) : Минкина Т. М., Солдатов А. В., Невидомская Д. Г., Цицуашвили В. С.
Заглавие : Синхротронное рентгеновское излучение и его применение для исследования почв и растений: возможности и перспективы : Учебное пособие
Выходные данные : Ростов-на-Дону, Таганрог: Издательство Южного федерального университета, 2018
Колич.характеристики :108 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-2437-2: Б.ц.
УДК : 631.4
ББК : 40.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование почвы--исследование ризосферы--метод спектроскопии--рентгеновская микрофлуоресценция--рентгеновское излучение--рентгеновское поглощение--синхротронное излучение--тяжелый металл
Аннотация: В учебном пособии освещается применение инструментальных высокотехнологичных методов рентгеновского синхротронного излучения для исследования почв и растений. Особое внимание уделяется возможностям практического применения новейших методов рентгеноспектральной диагностики для исследования почвенных и растительных объектов на молекулярном и атомарном уровне. Учебное пособие предназначено для студентов магистратуры, обучающихся по направлению 06.04.02 «Управление и оценка земельных ресурсов», а также для студентов естественных факультетов, специализирующихся в области охраны окружающей среды.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 84016
Автор(ы) : Беспалов В. И.
Заглавие : Лекции по радиационной защите : Учебное пособие
Выходные данные : Томск: Томский политехнический университет, 2017
Колич.характеристики :695 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-4387-0786-8: Б.ц.
УДК : 614.876
ББК : 51.26
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): безопасность--защита--радиационная защита--радиация--рентгеновское излучение
Аннотация: В пособии рассмотрены физические величины в области защиты от излучений, нормы радиационной безопасности, методы расчета защиты от гамма-излучения радионуклидных источников, рентгеновского и тормозного излучения, защита ускорителей заряженных частиц, радиационные условия при космических полетах, защита от нейтронов, основные правила безопасной работы с ионизирующими излучениями. Пособие содержит большое количество таблиц и номограмм, необходимых для проведения расчетов защиты. Предназначено для студентов, бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности «Радиационная безопасность человека и окружающей среды».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98052
Автор(ы) : Иванов А. Н., Поляков А. М.
Заглавие : Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2002
Колич.характеристики :79 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 539
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллическая структура--материал--реальный кристалл--рентгеновское излучение--субструктура
Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98065
Автор(ы) : Бублик В. Т., Щербачев К. Д.
Заглавие : Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2001
Колич.характеристики :100 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): деформация--дифракционный метод--поверхностный слой--приборная структура--рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
Статистика
за 21.05.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)