Скорская, О. Л. Методы и средства аналитического контроля материалов. Атомно-эмиссионный спектральный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие / Скорская О. Л. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2015. - 54 с. - ISBN 978-5-87623-851-1 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): аналитический контроль -- материал -- спектральный анализ Аннотация: Изложены основы метода атомно-эмиссионного спектрального анализа веществ и материалов. Дано описание метода, его возможностей и характерных особенностей, применения для контроля и анализа веществ, в том числе материалов металлургического производства. Предназначено для усвоения теоретических основ методов аналитического контроля и анализа веществ студентами, изучающими дисциплину «Методы и средства аналитического контроля материалов», обучающимися по направлениям подготовки бакалавров 221700.62 (27.03.01) «Стандартизация и метрология» и 221400.62 (27.03.02) «Управление качеством». Доп.точки доступа: Филичкина, В. А. Свободных экз. нет |