Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Электронный каталог (31)Систематический имидж-каталог (44)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=548<.>)
Общее количество найденных документов : 30
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30  
1.
IPRBooks-92700
92700

   
    Кристаллография и минералогия [Электронный ресурс] : лабораторный практикум / сост.: Е. Ю. Туманова, З. В. Стерленко. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2018. - 129 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
кристаллография -- ленточный силикат -- микроскоп -- минералогия -- морфология минерала -- самородный элемент -- симметрия кристалла -- сингония -- систематика минералов -- форма кристалла
Аннотация: Пособие представляет собой материал для проведения лабораторных работ по одноименной дисциплине. Лабораторная работа включает цель, формируемые компетенции, теоретическую часть изучаемой темы, оборудование и материалы, указания по технике безопасности, задания, форму отчета и рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по специальности 21.05.02 Прикладная геология, специализации «Геология нефти и газа». Квалификация выпускника - горный инженер-геолог.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Туманова, Е. Ю. \сост.\; Стерленко, З. В. \сост.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

2.
IPRBooks-92231
92231

    Ивлева, И. А.
    Минералогия и кристаллография: лабораторный практикум [Электронный ресурс] : учебное пособие / Ивлева И. А. - Белгород : Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова, ЭБС АСВ, 2018. - 123 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 26.3

Кл.слова (ненормированные):
горная порода -- кристаллография -- магматическая порода -- минералогия -- петрография -- плеохроизм -- рост кристалла -- свойство минерала -- спайность -- форма кристалла
Аннотация: В лабораторном практикуме представлены основные сведения по геометрической и физической кристаллографии, минералогии, петрографии и технической петрографии. В разделе «Минералогия» изложена информация о свойствах, морфологии, условиях образования минералов, дано их описание. Раздел «Петрография» содержит сведения о магматических, осадочных и метаморфических горных породах. В разделе «Техническая петрография» описаны основные кристаллооптические свойства минералов и методики работы с поляризационным микроскопом. Лабораторный практикум предназначен для студентов направления 18.03.01 - Химическая технология профилей подготовки «Химическая технология вяжущих и композиционных материалов», «Химическая технология стекла и керамики». Данное издание публикуется в авторской редакции.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Панова, О. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

3.
IPRBooks-84366
84366

    Бойко, С. В.
    Кристаллография и минералогия. Основные понятия [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бойко С. В. - Красноярск : Сибирский федеральный университет, 2015. - 212 с. - ISBN 978-5-7638-3223-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 26.3

Кл.слова (ненормированные):
геология -- кристаллогенезис -- кристаллография -- кристаллооптика -- минералогия
Аннотация: Дано понятие о правильных кристаллических многогранниках, их симметрии, ее элементах и преобразованиях, кристаллографической системе координат. Обозначены общие закономерности образования, роста и растворения кристаллов, приведены наиболее распространенные формы минеральных индивидов и минеральных агрегатов. Показана суть кристаллооптического метода диагностики минералов. Раскрыто содержание основных понятий минералогии, приведен краткий очерк ее истории, классификация процессов минералообразования и охарактеризован каждый из них. Рассмотрены общие положения оценки внутреннего строения минералов и даны описания их наиболее распространенных в земной коре классов. Предназначено для студентов вузов, обучающихся по специализации «Геология нефти и газа» специальности 130101 «Прикладная геология».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

4.
IPRBooks-91379
91379

    Батаев, И. А.
    Кристаллография. Формы кристаллических многогранников [Электронный ресурс] : учебное пособие / Батаев И. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2016. - 67 с. - ISBN 978-5-7782-2888-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
комбинационный многогранник -- кристалл -- кристаллический многогранник -- кристаллография -- простая форма
Аннотация: Даны определения различных типов простых форм кристаллических многогранников. Проведен анализ 47 форм, участвующих в огранке кристаллов низшей, средней и высшей категории. Описаны правила наименования простых форм, соответствующих кристаллам кубической сингонии. Приведены примеры комбинационных многогранников, сочетающих несколько типов простых форм. Описаны особенности естественной огранки реальных кристаллов. Представлена характеристика процессов двойникования и эпитаксиального нарастания на кристаллах.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Батаев, А. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

5.
IPRBooks-94346
94346

    Мордасов, Д. М.
    Кристаллография [Электронный ресурс] : учебное пособие / Мордасов Д. М. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 80 с. - ISBN 978-5-8265-1995-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК В37

Кл.слова (ненормированные):
дефект кристалла -- кристаллическое вещество -- кристаллография -- пространственная решётка -- решётка браве -- структура кристалла -- форма кристалла -- формула вульфа-брегга
Аннотация: Рассмотрены основы классической кристаллографии. Приведены методы описания кристаллических структур, методы построения стереографических проекций. Включены практические занятия, способствующие закреплению теоретического материала. Знакомит студентов с разнообразием кристаллографических форм, особенностями применения метода кристаллографического индицирования для описания кристаллических многогранников и структур, с основами стереографического проектирования кристаллических многогранников и их элементов симметрии. Является составной частью общеинженерного курса «Материаловедение» для студентов технических специальностей по дисциплине «Кристаллография». Предназначено для студентов бакалавриата, обучающихся по направлению 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Строкова, В. В.; Жерновский, И. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

6.
IPRBooks-84331
84331

    Подкопаев, О. И.
    Выращивание монокристаллов германия с контролируемыми структурой, содержанием примесей и оптическими свойствами [Электронный ресурс] : монография / Подкопаев О. И. - Красноярск : Сибирский федеральный университет, 2017. - 152 с. - ISBN 978-5-7638-3585-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
германий -- кислород -- контейнерный материал -- монокристалл -- оптическое свойство
Аннотация: Обобщен экспериментальный материал отечественных и зарубежных ученых по проблеме получения монокристаллов германия с контролируемыми структурой, составом и оптическими свойствами. Представлены собственные результаты авторов по выращиванию малодислокационных и особо чистых кристаллов германия, разработке новых контейнерных материалов, исследованию поведения кислорода в германии и его влияния на структурное совершенство и свойства монокристаллов. Предназначена для студентов, обучающихся по направлениям «Материаловедение и технологии материалов», «Химическая технология монокристаллов, материалов и изделий электронной техники», а также специалистов, занимающихся изучением и производством полупроводников.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Шиманский, А. Ф.; Павлюк, Т. О.
Свободных экз. нет
Найти похожие

7.
IPRBooks-91266
91266

    Батаев, И. А.
    Кристаллография. Методы проецирования кристаллов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Батаев И. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2017. - 72 с. - ISBN 978-5-7782-3286-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
задача -- кристалл -- кристаллография -- метод -- сферическая проекция
Аннотация: Даны представления о типах пространственных задач, характерных для кристаллографии. Описаны методы сферического, стереографического, гномостереографического и гномонического проецирования кристаллов, проведено их сравнение. Приведены примеры проецирования граней различного типа. Описано решение кристаллографических задач с использованием сетки Г.В. Вульфа.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Батаев, А. А.; Лазуренко, Д. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

8.
IPRBooks-91378
91378

    Батаев, И. А.
    Кристаллография. Обозначение и вывод классов симметрии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Батаев И. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2015. - 60 с. - ISBN 978-5-7782-2740-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
кристалл -- кристаллография -- осевая теорема -- симметрия -- точечная группа
Аннотация: Рассмотрены обозначения точечных групп симметрии по Браве, по А. Шёнфлису и в соответствии с международной классификацией Германа – Могена. Проанализированы правила взаимодействия элементов симметрии в виде осевой теоремы Эйлера, ее частных проявлений и следствий. Представлен вывод классов симметрии для кристаллов с единичными направлениями, а также для кристаллов без единичных направлений.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Батаев, А. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

9.
IPRBooks-98115
98115

    Кузнецов, Г. Д.
    Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике [Электронный ресурс] : лабораторный практикум / Кузнецов Г. Д. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 41 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
гетероструктура -- излучающий диод -- оптоэлектроника -- светодиод -- светофильтр -- фотодиод
Аннотация: Практикум состоит из пяти лабораторных работ, выполнение которых позволит получить достаточно полное представление о свойствах гетероструктур, используемых в оптоэлектронике. В каждом описании к лабораторной работе дается краткое рассмотрение теории и технологии изготовления гетероструктур, что закрепляет знания студентов, полученные в лекционных курсах. Настоящий лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 550700 для изучения курсов «Основы высоких технологий», «Физико-химические основы многослойных гетероструктур», «Конструирование компонентов и элементов микроэлектроники».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Сушков, В. П.; Ованесов, А. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.
IPRBooks-98065
98065

    Бублик, В. Т.
    Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2001. - 100 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
деформация -- дифракционный метод -- поверхностный слой -- приборная структура -- рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Щербачев, К. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 1-10    11-20   21-30  
 
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)