Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.
IPRBooks-68197
68197

    Парфенов, П. С.
    Техника физического эксперимента [Электронный ресурс] : лабораторный практикум / Парфенов П. С. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2015. - 91 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- дифракционный монохроматор -- измерение мощности -- инфракрасная спектроскопия -- наноструктура -- операционный усилитель -- оптический сигнал -- техника эксперимента -- физический эксперимент -- электрический сигнал
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для бакалавров четвертого курса факультета фотоники и оптоинформатики, обучающихся по программам «Оптика наноструктур» и «Физика наноструктур» по направлению подготовки 12.03.03 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание лабораторных работ к дисциплинам «Техника физического эксперимента» и «Приборы и методы экспериментальной физики». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологии.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Литвин, А. П.; Ушакова, Е. В.; Баранов, А. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

2.
IPRBooks-68146
68146

    Федоров, А. В.
    Специальные методы измерения физических величин [Электронный ресурс] : учебное пособие / Федоров А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2014. - 130 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- изучение наноструктуры -- метод измерения -- нанолитография -- оптическая спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физическая величина -- экспериментальный метод -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Баранов, А. В.; Литвин, А. П.; Черевков, С. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

3.
IPRBooks-68194
68194

    Баранов, А. В.
    Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью [Электронный ресурс] : учебное пособие / Баранов А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2009. - 191 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- кривая шапиро -- лазерная техника -- лазерный импульс -- люминесцентная микроскопия -- оптическая микроскопия -- пониженная размерность -- техника эксперимента -- физический эксперимент -- электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Виноградова, Г. Н.; Воронин, Ю. М.; Ермолаева, Г. М.; Парфенов, П. С.; Шилов, В. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

4.
IPRBooks-68195
68195

    Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2 [Электронный ресурс] : лабораторный практикум : лабораторный практикум. - [Б. м.] : Университет ИТМО : Университет ИТМО, 20112011 - .Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2 / Баранов А. В. - 2011. - 44 с. - ISBN 978-5-4344-0026-8. - ISBN 978-5-248-00585-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
техника эксперимента -- физический эксперимент -- пониженная размерность -- спектральное измерение -- параметр люминесценции -- квантовая точка -- инфракрасный диапазон -- атомно-силовая микроскопия -- инфракрасное излучение -- полупроводниковая наноструктура
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для магистрантов второго курса факультета Фотоники и оптоинформатики, обучающихся по магистерской программе 200700.68.05 «Оптика наноструктур» по направлению подготовки 200700 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание шести лабораторных работ к дисциплине «Методы и техника физического эксперимента». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Литвин, А. П.; Парфенов, П. С.; Ушакова, Е. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

5.
IPRBooks-94347
94347

   
    Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.334

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.; Коплак, О. В.; Безверхний, А. И.; Дмитриев, О. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
Статистика
за 28.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)