Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская спектроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

IPRBooks-78713

78713

Луков, В. В.
Физические методы исследования в химии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Луков В. В. - Ростов-на-Дону : Южный федеральный университет, 2016 ; Ростов-на-Дону : Издательство Южного федерального университета, 2016. - 216 с. - ISBN 978-5-9275-2023-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

544

ББК 24.5

Кл.слова (ненормированные):
инфракрасная спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- физический метод -- химия -- электрический метод -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие соответствует требованиям ФГОС ВО и программе учебной дисциплины «Физические методы исследования в химии». Детально изложены основные теоретические понятия и рассмотрены методики таких современных методов исследования, как ИК-, ЯМР-, ЭПР-, EXAFS- и электронная спектроскопия, а также метода дипольных моментов. Предназначено для студентов, аспирантов и преподавателей химических факультетов университетов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Щербаков, И. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68146

68146

Федоров, А. В.
Специальные методы измерения физических величин [Электронный ресурс] : учебное пособие / Федоров А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2014. - 130 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

530

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- изучение наноструктуры -- метод измерения -- нанолитография -- оптическая спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физическая величина -- экспериментальный метод -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Баранов, А. В.; Литвин, А. П.; Черевков, С. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68129

68129

Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1 [Электронный ресурс] : учебное пособие, курс лекций. - [Б. м.] : Университет ИТМО, 2013 - .Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1 / Золотарев В. М. - 2013. - 267 с. - ISBN 978-5-7782-2377-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.86

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- оптический материал -- химический состав -- рентгеновская спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- метод ионизации -- фотоакустическая спектроскопия -- эмиссионная спектроскопия -- термогравиметрия
Аннотация: Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие предназначено для магистров, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по магистерской программе «Оптические материалы фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплин «Конденсированные лазерные среды», «Волноводная фотоника», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики», «ИК-фотоника», «Спектроскопия и рефрактометрия», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Стеклообразные полупроводники для фотоники», «Методы исследования материалов фотоники», «Органические оптические материалы и композиты», а также обучающихся по направлению «Оптотехника» при изучении дисциплин «Методы и приборы для научных исследований» и «Материалы лазерной оптоэлектроники».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Никоноров, Н. В.; Игнатьев, А. И.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-95819

95819

Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2019. - 146 с. - ISBN 978-5-9275-3202-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
детектор -- монохроматор -- рентгеновская спектроскопия -- рентгеновское излучение -- фотоэлектронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит изложение материала, входящего в учебную программу курсов «Специальный физический практикум», «Физика рентгеновских лучей», «Синхротронное излучение в исследовании материалов», изучаемых студентами специальностей «Физика конденсированного состояния», «Физика», «Физика, химия и технология функциональных материалов» физического факультета и НИИ физики Южного федерального университета. Содержит контрольные вопросы и проектные задания. Предназначено для студентов, которые обучаются по программам бакалавриата и магистратуры в области физики конденсированного состояния, материаловедения, нанотехнологий. Создано при поддержке Южного федерального университета (ВнГр-07/2017-30).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.; Мазурицкий, М. И.; Козаков, А. Т.; Шматко, В. А.; Кременная, М. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-87446

87446

Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии [Электронный ресурс] : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539.2

ББК 30.36

Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.; Шматко, В. А.; Фуник, А. О.; Невзорова, Н. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 03.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)