Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифракционная теория<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

IPRBooks-67310

67310

Домненко, В. М.
Моделирование формирования оптического изображения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Домненко В. М. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2011. - 145 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.97

Кл.слова (ненормированные):
дифракционная теория -- компьютерная модель -- оптическое изображение -- сигнал -- электромагнитная теория
Аннотация: Учебное пособие подготовлено на кафедре прикладной и компьютерной оптики СПбГУ ИТМО и предназначено для подготовки магистров по профилю 200400.06 «Компьютерная оптика». В пособии излагаются основные теоретические положения, необходимые для практического моделирования формирования оптических изображений. В конце каждой главы предлагаются вопросы для обсуждения и задачи для аналитического решения или компьютерного моделирования.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Бурсов, М. В.; Иванова, Т. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98841

98841

Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия [Электронный ресурс] : курс лекций / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2006. - 93 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
дефект -- дифракционная теория -- микроскопия -- рентгеновская топограмма -- рентгеновский луч -- электроника
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Мильвидский, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 28.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)