Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (10)

ЭБС Консультант студента (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 29
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-29

IPRBooks-72883

72883

Кузнецова, Т. В.
Микроскопия материалов цементного производства [Электронный ресурс] : учебное пособие / Кузнецова Т. В. - Саратов : Вузовское образование, 2018. - 235 с. - ISBN 978-5-4487-0155-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

666

ББК 35.20-46

Кл.слова (ненормированные):
кристаллический продукт -- кристаллооптический метод -- микроскопия -- поляризационный микроскоп -- цементное производство
Аннотация: В книге излагается теория и практика методов исследования и определения минералов и искусственных кристаллических продуктов с помощью поляризационного микроскопа. Теория дается в объеме, необходимом для сознательного овладения методикой. Большое внимание уделено практическим вопросам. Разделы, посвященные использованию микроскопических методов, наряду с учетом достижений отечественных и зарубежных исследований, содержат описание практических разработок авторов, значительная часть которых используется в научно-исследовательской практике. Книга может применяться как руководство для специалистов, использующих кристаллооптические методы исследования, а также предназначаться в качестве учебного пособия для студентов вузов технологических специальностей.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Самченко, С. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-78478

78478

Блесман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Блесман А. И. - Омск : Омский государственный технический университет, 2017. - 78 с. - ISBN 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620.2

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- материаловедение -- метод -- микроскопия -- наноматериал -- рентген -- электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.; Полонянкин, Д. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-69545

69545

Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-72702

72702

Сулейманов, С. М.
Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас [Электронный ресурс] : учебное пособие / Сулейманов С. М. - Воронеж : Воронежский Государственный Аграрный Университет им. Императора Петра Первого, 2016. - 98 с. - ISBN 978-5-7267-0847-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 48.1

Кл.слова (ненормированные):
болезнь -- ветеринария -- гистология -- животное -- микроскопия -- орган -- поросенок -- сельское хозяйство
Аннотация: В пособии рассмотрены вопросы возрастной морфологии органов клинически здоровых и больных рахитом поросят. Атлас состоит из шести разделов. Иллюстрирован фотографиями, выполненными при световой микроскопии гистологических срезов органов. Предназначен для студентов факультетов ветеринарной медицины, преподавателей специализированных высших и средних учебных заведений, практикующих ветеринарных врачей.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Дерезина, Т. Н.; Паршин, П. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-60748

60748

Панова, Т. В.
Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия [Электронный ресурс] : учебное пособие / Панова Т. В. - Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. - 80 с. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

681.7

ББК 22.38я73

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования вещества -- растровая электронная микроскопия -- электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-26894

26894

Неволин, В. К.
Зондовые нанотехнологии в электронике [Электронный ресурс] / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-61986

61986

Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

537.533

ББК 22.33я7

Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.; Абдуллин, И. Ш.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-74060

74060

Ильющенко, А. Ф.
Атлас производственных разрушений различных конструкций [Электронный ресурс] / Ильющенко А. Ф. - Минск : Белорусская наука, 2017. - 314 с. - ISBN 978-985-08-2142-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

624.01

ББК 38.5

Кл.слова (ненормированные):
атлас разрушений -- исследование изломов -- коррозионное растрескивание -- межзеренное разрушение -- производственное разрушение -- разрушение конструкции -- стальная конструкция -- усталостное разрушение -- фрактографический анализ -- фрактография
Аннотация: В монографии, которая представляет собой собрание наиболее типичных видов разрушений и является руководством по проведению анализа разрушений машин и конструкций различного назначения, приведены данные об истории развития фрактографии. Представлены приемы проведения фрактографического анализа и правила подготовки изломов к исследованиям. Описаны многочисленные примеры разрушений техники и различных конструкций в процессе эксплуатации с подробным рассмотрением причин, вызвавших данные разрушения. При исследовании изломов применены такие современные методы, как сканирующая и электронная микроскопия и микрорентгеноспектральный анализатор. Монография предназначена для научных и инженерно-технических работников в области исследований причин разрушений техники и различных конструкций в процессе эксплуатации, аспирантов, студентов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Маркова, Л. В.; Чекан, В. А.; Фомихина, И. В.; Коледа, В. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-57256

57256

Выполнение расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» [Электронный ресурс] : учебно-методическое пособие / сост.: Д. В. Фомин, В. Л. Дубов. - Саратов : Вузовское образование, 2017. - 41 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

531

ББК 32.84

Кл.слова (ненормированные):
твердое тело -- топология поверхности -- физика -- электронная микроскопия
Аннотация: Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» подготовлено для бакалавров и магистров инженерно-физических направлений подготовки высшего профессионального образования, изучающих дисциплины «Экспериментальные методы физики твердого тела» и «Теоретические и экспериментальные методы физики твердого тела». В данном учебно-методическом пособии рассматриваются физические основы метода растровой электронной микроскопии и его применение для исследования топографии и состояния поверхности. Учебно-методическое пособие содержит указания по исследованию топологии поверхности: границ зерен, пор, трещин, неоднородности состава и пр. Пособие также будет интересно аспирантам и молодым ученым естественнонаучного блока при проведении научно-исследовательской работы, а также студентам при выполнении НИРС. Пособие подготовлено в рамках работ по гранту АмГУ.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Фомин, Д. В. \сост.\; Дубов, В. Л. \сост.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.

IPRBooks-58198

58198

Архипова, Т. В.
Руководство к практическим занятиям по цитологии [Электронный ресурс] : методическое пособие для бакалавров по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология» / Архипова Т. В. - Москва : Прометей, 2016. - 56 с. - ISBN 978-5-9907123-1-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

576

ББК 28.0

Кл.слова (ненормированные):
биология -- световая микроскопия -- цитология -- электронная микроскопия
Аннотация: Настоящее пособие предназначено для студентов, преподавателей и технического персонала в качестве методического руководства при подготовке и проведении лабораторных и практических занятий по цитологии со студентами – бакалаврами по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология». Лабораторные занятия проводятся на основе сочетания методов световой и электронной микроскопии. Целью лабораторных занятий является подробное изучение морфологии клеток, их химического состава, функциональной активности внутриклеточных структур, процессов деления клеток и гаметогенеза. В проведении занятий осуществляется последовательность этапов: опрос студентов, краткое объяснение преподавателя, указания для проведения самостоятельной лабораторной работы и задания для подготовки к следующему занятию. В пособии описаны 18 практических занятий в соответствии с рабочей программой дисциплины «Цитология». В результате прохождения курса практических занятий студенты закрепляют теоретические знания и получают устойчивые навыки анализа цитологических препаратов с помощью световой и электронной микроскопии.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Коничев, В. С.; Стволинская, Н. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

1-10 11-20 21-29

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 12.05.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)