Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=изучение наноструктуры<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
IPRBooks-68146
68146

    Федоров, А. В.
    Специальные методы измерения физических величин [Электронный ресурс] : учебное пособие / Федоров А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2014. - 130 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- изучение наноструктуры -- метод измерения -- нанолитография -- оптическая спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физическая величина -- экспериментальный метод -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Баранов, А. В.; Литвин, А. П.; Черевков, С. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)