Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Библиотечный фонд техникума (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскоп<.>)
Общее количество найденных документов : 31
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-31   31-31 
1.
IPRBooks-72883
72883

    Кузнецова, Т. В.
    Микроскопия материалов цементного производства [Электронный ресурс] : учебное пособие / Кузнецова Т. В. - Саратов : Вузовское образование, 2018. - 235 с. - ISBN 978-5-4487-0155-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 35.20-46

Кл.слова (ненормированные):
кристаллический продукт -- кристаллооптический метод -- микроскопия -- поляризационный микроскоп -- цементное производство
Аннотация: В книге излагается теория и практика методов исследования и определения минералов и искусственных кристаллических продуктов с помощью поляризационного микроскопа. Теория дается в объеме, необходимом для сознательного овладения методикой. Большое внимание уделено практическим вопросам. Разделы, посвященные использованию микроскопических методов, наряду с учетом достижений отечественных и зарубежных исследований, содержат описание практических разработок авторов, значительная часть которых используется в научно-исследовательской практике. Книга может применяться как руководство для специалистов, использующих кристаллооптические методы исследования, а также предназначаться в качестве учебного пособия для студентов вузов технологических специальностей.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Самченко, С. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

2.
IPRBooks-69545
69545

    Филимонова, Н. И.
    Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

3.
IPRBooks-60748
60748

    Панова, Т. В.
    Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия [Электронный ресурс] : учебное пособие / Панова Т. В. - Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. - 80 с. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.38я73

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования вещества -- растровая электронная микроскопия -- электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

4.
IPRBooks-32788
32788

    Тюменцева, Е. Ю.
    Основы микробиологии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Тюменцева Е. Ю. - Омск : Омский государственный институт сервиса, Омский государственный технический университет, 2015. - 123 с. - ISBN 978-5-93252-357-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 20.1

Кл.слова (ненормированные):
анаэробное разложение -- культивирование микроорганизмов -- микробиология -- микроскоп -- микроскопический гриб -- техника посева
Аннотация: Цель пособия – помочь студентам в более глубоком и осознанном усвоении учебной программы курса «Основы микробиологии» через практические занятия в лаборатории. В данном пособии приведены основные понятия по дисциплине «Основы микробиологии», цель лабораторных работ, материалы и реактивы, методика выполнения лабораторных работ. Учебное пособие подготовлено в соответствии с Федеральным государственным образовательным стандартом и действующей программой по направлению подготовки 100800.62 Товароведение, 260800.62 Технология продукции и организация общественного питания. Пособие предназначено для студентов факультета экономики и сервисных технологий, обучающихся на дневной и заочной формах обучения, а также всем, кто интересуется методикой выполнения исследований по микробиологии.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

5.
IPRBooks-66428
66428

    Цуканова, Г. И.
    Габаритный расчет и выбор компонентов оптических систем микроскопов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Цуканова Г. И. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2015. - 92 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 34.9

Кл.слова (ненормированные):
габаритный расчет -- коллектор -- конденсор -- лампа -- микроскоп -- объектив -- окуляр -- оптическая система -- осветительное устройство -- схема
Аннотация: В учебном пособии приводятся теоретические сведения по габаритному расчету визуально-проекционного устройства микроскопа и осветительных устройств микроскопа по курсу «Прикладная оптика» в качестве основного учебного материала при выполнении принципиальных оптических схем микроскопа. Учебное пособие предназначено для студентов направления подготовки бакалавров Оптотехника и специальности «Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Безруков, В. А.; Карпова, Г. В.; Багдасарова, О. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

6.
IPRBooks-67572
67572

    Асеев, В. А.
    Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники [Электронный ресурс] : учебное пособие / Асеев В. А. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2015. - 131 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
метод -- микроскоп -- наноматериал -- оптика -- прибор -- рентген -- фотоника
Аннотация: Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Золотарев, В. М.; Никоноров, Н. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

7.
IPRBooks-65813
65813

    Иванова, Т. В.
    Введение в прикладную и компьютерную оптику [Электронный ресурс] : конспект лекций / Иванова Т. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2013. - 99 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
компьютерная оптика -- микроскоп -- оптическая система -- оптический прибор -- осветительная система -- прикладная оптика -- телескоп -- фотоаппарат
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются основные направления развития современной прикладной и компьютерной оптики; представлены основные характеристики оптических систем; показаны назначение, основные характеристики и особенности типовых оптических приборов – фотоаппаратов, микроскопов, телескопов и осветительных систем. Учебное пособие предназначено для студентов первого курса, обучающихся на кафедре Прикладной и компьютерной оптики по направлению подготовки 200400 «Оптотехника», а также может быть полезным всем студентам факультета Оптико-электронных систем и технологий.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Вознесенская, А. О.
Свободных экз. нет
Найти похожие

8.
IPRBooks-22873
22873

   
    Исследование структуры чугунов и сталей с помощью металлографического инвертированного микроскопа [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам по теории и технологии производства стали и разливке стали и кристаллизации слитка / сост.: А. Н. Роготовский, А. А. Шипельников. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2013. - 23 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 34.3

Кл.слова (ненормированные):
инвертированный микроскоп -- металлографический микроскоп -- сталь -- чугун
Аннотация: Рассмотрены вопросы исследования микроструктуры подготовленных проб чугунов и сталей с помощью оптических микроскопов. Много внимания уделено особенностям конструкции микроскопов и методикам исследования металлографических шлифов сплавов. Метод. указ. предназначены для студентов 4 курса металлургического института специальности 150101.62 «Металлургия чёрных металлов» и направления 150400 «Металлургия», изучающих дисциплины «Теория и технология производства стали» и «Разливка стали и кристаллизация слитка».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Роготовский, А. Н. \сост.\; Шипельников, А. А. \сост.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

9.
IPRBooks-67281
67281

    Кирилловский, В. К.
    Методы исследования и контроля качества оптических систем [Электронный ресурс] : учебное пособие к лабораторному практикуму / Кирилловский В. К. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2013. - 98 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
изображение -- изофотометр -- интерферометр -- качество -- контроль -- микрообъектив -- микроскоп -- оптическая система -- фотообъектив
Аннотация: В пособии рассматриваются принципы и схемные решения аппаратуры, принципы методов оценки качества оптического изображения и измерения его характеристик, включая инновационные решения, предпосылки компьютерного моделирования этих средств исследований и контроля. В данном учебном пособии приведены сведения о методах измерений и контроля, свойствах аппаратуры измерений, методики и средства для обработки результатов наблюдений, а также вопросы для контроля знаний студентов. Показаны пути применения лазеров, нетрадиционные пути использования различных дифракционных элементов, средств телевизионной и компьютерной техники. Показаны примеры анализа и синтеза оригинальных методов и схемных решений средств оценки качества изображения, даваемого оптическими системами и элементами. Показаны инновационные решения методов и аппаратуры для измерения деформаций волнового фронта, связанных с аберрациями оптических систем и ошибками оптических поверхностей. Учебное пособие предназначено для студентов оптических специальностей, изучающих методы оптических измерений по направлению подготовки 200400 «Оптотехника», образовательная программа 200400.68.06 «Компьютерная оптика», 200400.68.01 «Прикладная оптика», 200400.68.16 «Оптические приборы», а также может быть полезным для инженерно-технических работников исследовательских лабораторий и технологов оптического производства.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Зацепина, М. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.
IPRBooks-29501
29501

    Анисович, А. Г.
    Практика металлографического исследования материалов [Электронный ресурс] / Анисович А. Г. - Минск : Белорусская наука, 2013. - 251 с. - ISBN 978-985-08-1603-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
материал -- материаловедение -- материалография -- металлический материал -- металлографическое исследование -- металлографическое оборудование -- микроскоп
Аннотация: Монография посвящена вопросам применения металлографического микроскопа для анализа разнообразных металлических и неметаллических материалов. Рассмотрено использование различных способов освещения образцов при анализе в отраженном свете. Проанализированы некоторые часто встречающиеся практические задачи анализа материалов, а также типичные ошибки металлографического анализа и изготовления образцов. Предназначена для материаловедов-практиков, интересующихся возможностями металлографических микроскопов и интерпретацией данных, полученных с их помощью, а также тех, кто осваивает анализ и исследование разнообразных материалов, аспирантов, студентов старших курсов.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Румянцева, И. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 1-10    11-20   21-31   31-31 
 
Статистика
за 25.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)