Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская рефлектометрия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
IPRBooks-64174
64174

    Бублик, В. Т.
    Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2016. - 84 с. - ISBN 978-5-87623-982-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- диффузное рассеяние -- материал -- приборная структура -- рентгеновская рефлектометрия
Аннотация: Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Щербачев, К. Д.; Воронова, М. И.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
Статистика
за 03.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)