Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифракционный метод<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

IPRBooks-64174

64174

Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2016. - 84 с. - ISBN 978-5-87623-982-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- диффузное рассеяние -- материал -- приборная структура -- рентгеновская рефлектометрия
Аннотация: Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Щербачев, К. Д.; Воронова, М. И.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-56052

56052

Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур [Электронный ресурс] : ионная имплантация. Учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. - 67 с. - ISBN 978-5-87623-695-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 34.2

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- ионная имплантация -- материал
Аннотация: В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Щербачев, К. Д.; Воронова, М. И.; Мильвидский, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98165

98165

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98057

98057

Кекало, И. Б.
Атомная структура аморфных сплавов и ее эволюция [Электронный ресурс] : учебное пособие / Кекало И. Б. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2006. - 339 с. - ISBN 5-87623-170 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539

ББК 34.2

Кл.слова (ненормированные):
аморфный сплав -- атомная структура -- дефект -- дифракционный метод -- металл -- спектроскопия
Аннотация: Издание посвящено одной из центральных проблем аморфных сплавов – их атомному строению. Приведены экспериментальные данные изучения атомной структуры аморфных сплавов и ее эволюции, полученные современными методами физического анализа: дифракционными методами, в том числе методами, позволяющими получать информацию о композиционном ближнем порядке; высокоразрешающими дифракционно-спектроскопическими методами, такими как EXAFS и EDXD; методом малоуглового рассеяния рентгеновского и нейтронного излучений; методами ЯМР, мёссбауэровской спектроскопии и ферромагнитного резонанса. Рассмотрены основные модели структур аморфного состояния и методы их построения. Структура аморфных сплавов описана также в рамках модели двухуровневой системы. Проведена классификация по размерному признаку и устойчивости к отжигу дефектов атомной структуры аморфных сплавов – специфических участков аморфной фазы, топология и химический состав которых существенно отличаются от среднестатистических усредненных по всему объему аморфного тела. Показана роль этих дефектов в развитии необратимых и обратимых процессов структурной релаксации. Рассмотрены также представления об аморфных сплавах как о системе с пространственной самоорганизованной дефектной структурой, состоящей из многоуровневых корреляций плотности и химического состава. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 651800 «Физическое материаловедение», и может быть использовано аспирантами и специалистами, научная и инженерная деятельность которых связана с проблемой аморфных металлических сплавов.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98052

98052

Иванов, А. Н.
Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 79 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллическая структура -- материал -- реальный кристалл -- рентгеновское излучение -- субструктура
Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Поляков, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98065

98065

Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2001. - 100 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
деформация -- дифракционный метод -- поверхностный слой -- приборная структура -- рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Щербачев, К. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 20.05.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)