Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Иванов, А. Н.$<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

IPRBooks-68676

68676

Латыев, С. М.
Основы конструирования оптико-электронных приборов и систем. Сборник задач [Электронный ресурс] : учебное пособие для самостоятельной работы по дисциплине «Основы конструирования оптико-электронных приборов и систем» / Латыев С. М. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2015. - 57 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.86

Кл.слова (ненормированные):
векторная погрешность -- конструкция -- оэп -- преобразователь -- скалярная погрешность -- функциональное устройство
Аннотация: В учебном пособии представлены задачи для самостоятельного решения по курсу «Основы конструирования оптико-электронных приборов и систем». Решение задач позволит студентам закрепить знания, полученные по курсу, и научит их самостоятельно проводить анализ конструкций оптических приборов с целью выявления первичных погрешностей и последующего их расчета. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 12.03.02 «Оптотехника». Также оно может быть полезно для студентов, обучающихся дисциплине «Основы конструирования оптических и лазерных приборов и систем» направления 12.03.05 «Лазерная техника и лазерные технологии».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68695

68695

Иванов, А. Н.
Проектирование узлов оптико-электронных приборов. Методические указания к выполнению курсового проекта [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2013. - 72 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
деталь -- допуск -- линза -- микроскоп -- объектив -- окуляр -- оэп -- призма -- узел
Аннотация: Учебное пособие разработано для ознакомления студентов 3-го курса с особенностями расчета допусков на конструктивные параметры элементов оптических систем и выбора требований к материалам, из которых они изготавливаются в рамках дисциплин «Основы конструирования оптико-электронных приборов и систем» и «Основы конструирования лазерных и оптико-электронных приборов и систем». Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 200400 «Оптотехника» по профилю 200400.62. «Проектирование и метрология оптико-электронных приборов» а также для студентов, обучающихся по направлению 200500 «Лазерная техника и лазерные технологии» по профилю 200500.62 «Лазерная техника и лазерные технологии».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-65756

65756

Иванов, А. Н.
Автоматизированное проектирование и расчет узлов оптико-электронных приборов в САПР КОМПАС [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2012. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.97

Кл.слова (ненормированные):
механизм -- модель -- оптическая система -- оэп -- сапр
Аннотация: Учебное пособие написано для более детального ознакомления студентов 4-го курса каф. КИПОП с системой автоматизированного проектирования КОМПАС и ее CAE-приложений для инженерного расчета в рамках дисциплины «САПР ОЭП». Первая половина учебного пособия может быть полезна для студентов 2-го курса при изучении дисциплины «Специальные разделы информатики». Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 200400 «Оптотехника» по профилю подготовки бакалавров 200400.68 «Проектирование и метрология оптико-электронных приборов специального назначения».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68103

68103

Каракулев, Ю. А.
Руководство к решению задач с применением электронных таблиц Excel [Электронный ресурс] : учебное пособие / Каракулев Ю. А. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2010. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

681.3

ББК 32.97

Кл.слова (ненормированные):
встроенная функция -- вычисление производной -- задача оптимизации -- применение excel -- решение задачи -- создание диаграмм -- статистическая задача -- трендовый анализ -- форматирование таблицы -- электронная таблица
Аннотация: Учебное пособие рекомендуется для использования в дисциплинах «Прикладная информатика», «Введение в специальность». Его основная тема – организация данных в виде таблиц, работа с формулами и встроенными функциями, задачи оптимизации, обработка результатов измерений, представление данных из таблиц в графическом виде. Каждый раздел начинается с изложения теоретического материала и завершается практическим заданием для выполнения. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 200200 «Оптотехника» и специальности 200203 «Оптико-электронные приборы и системы».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98165

98165

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98052

98052

Иванов, А. Н.
Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 79 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллическая структура -- материал -- реальный кристалл -- рентгеновское излучение -- субструктура
Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Поляков, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 21.05.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)