Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Найдено в других БД:

Электронный каталог (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9

IPRBooks-69545

69545

Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-57256

57256

Выполнение расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» [Электронный ресурс] : учебно-методическое пособие / сост.: Д. В. Фомин, В. Л. Дубов. - Саратов : Вузовское образование, 2017. - 41 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

531

ББК 32.84

Кл.слова (ненормированные):
твердое тело -- топология поверхности -- физика -- электронная микроскопия
Аннотация: Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» подготовлено для бакалавров и магистров инженерно-физических направлений подготовки высшего профессионального образования, изучающих дисциплины «Экспериментальные методы физики твердого тела» и «Теоретические и экспериментальные методы физики твердого тела». В данном учебно-методическом пособии рассматриваются физические основы метода растровой электронной микроскопии и его применение для исследования топографии и состояния поверхности. Учебно-методическое пособие содержит указания по исследованию топологии поверхности: границ зерен, пор, трещин, неоднородности состава и пр. Пособие также будет интересно аспирантам и молодым ученым естественнонаучного блока при проведении научно-исследовательской работы, а также студентам при выполнении НИРС. Пособие подготовлено в рамках работ по гранту АмГУ.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Фомин, Д. В. \сост.\; Дубов, В. Л. \сост.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-58198

58198

Архипова, Т. В.
Руководство к практическим занятиям по цитологии [Электронный ресурс] : методическое пособие для бакалавров по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология» / Архипова Т. В. - Москва : Прометей, 2016. - 56 с. - ISBN 978-5-9907123-1-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

576

ББК 28.0

Кл.слова (ненормированные):
биология -- световая микроскопия -- цитология -- электронная микроскопия
Аннотация: Настоящее пособие предназначено для студентов, преподавателей и технического персонала в качестве методического руководства при подготовке и проведении лабораторных и практических занятий по цитологии со студентами – бакалаврами по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология». Лабораторные занятия проводятся на основе сочетания методов световой и электронной микроскопии. Целью лабораторных занятий является подробное изучение морфологии клеток, их химического состава, функциональной активности внутриклеточных структур, процессов деления клеток и гаметогенеза. В проведении занятий осуществляется последовательность этапов: опрос студентов, краткое объяснение преподавателя, указания для проведения самостоятельной лабораторной работы и задания для подготовки к следующему занятию. В пособии описаны 18 практических занятий в соответствии с рабочей программой дисциплины «Цитология». В результате прохождения курса практических занятий студенты закрепляют теоретические знания и получают устойчивые навыки анализа цитологических препаратов с помощью световой и электронной микроскопии.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Коничев, В. С.; Стволинская, Н. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68146

68146

Федоров, А. В.
Специальные методы измерения физических величин [Электронный ресурс] : учебное пособие / Федоров А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2014. - 130 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

530

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- изучение наноструктуры -- метод измерения -- нанолитография -- оптическая спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физическая величина -- экспериментальный метод -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Баранов, А. В.; Литвин, А. П.; Черевков, С. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-18391

18391

Белихов, А. Б.
Основы практической металлографии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Белихов А. Б. - Саратов : Вузовское образование, 2013. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
практическая металлография -- световая микроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Белкин, П. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68194

68194

Баранов, А. В.
Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью [Электронный ресурс] : учебное пособие / Баранов А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2009. - 191 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- кривая шапиро -- лазерная техника -- лазерный импульс -- люминесцентная микроскопия -- оптическая микроскопия -- пониженная размерность -- техника эксперимента -- физический эксперимент -- электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Виноградова, Г. Н.; Воронин, Ю. М.; Ермолаева, Г. М.; Парфенов, П. С.; Шилов, В. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-63529

63529

Лыгина, Т. З.
Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Лыгина Т. З. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2009. - 79 с. - ISBN 978-5-7882-0682-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

543

ББК 24.4

Кл.слова (ненормированные):
адсорбционный метод -- инфракрасная спектроскопия -- минеральный сорбент -- порометрия -- термический анализ -- фазовый анализ -- химический анализ -- электронная микроскопия
Аннотация: Всесторонне изложен рекомендуемый комплекс физико-химических и адсорбционных методов исследования сорбентов. Дана общая характеристика неорганических природных минеральных сорбентов. Предназначено для студентов всех форм обучения, обучающихся по специальностям 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и 240301 «Химическая технология неорганических веществ», изучающих дисциплины «Сырьевые ресурсы химической технологии», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Химическая технология неорганических веществ».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Михайлова, О. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-87446

87446

Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии [Электронный ресурс] : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539.2

ББК 30.36

Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.; Шматко, В. А.; Фуник, А. О.; Невзорова, Н. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98165

98165

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 13.05.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)