Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Электронный каталог (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.
IPRBooks-74087
74087

    Анисович, А. Г.
    Рентгеноструктурный анализ в практических вопросах материаловедения [Электронный ресурс] / Анисович А. Г. - Минск : Белорусская наука, 2017. - 208 с. - ISBN 978-985-08-2112-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
анализ текстуры -- материаловедение -- металловедение -- расшифровка рентгенограммы -- рентгеновское излучение -- рентгенограмма -- рентгеноструктурный анализ -- фазовый анализ -- физика металлов
Аннотация: Рассматривается применение рентгеноструктурного анализа к решению некоторых практических задач металловедения и физики металлов. Проиллюстрирована связь физико-механических свойств материалов с результатами рентгеноструктурных исследований. Рассмотрены некоторые аспекты интерпретации рентгеновских данных. Книга ориентирована на специалистов в области материаловедения, которые не являются специалистами в области рентгеноструктурного анализа, но хотели бы использовать его в своей работе.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

2.
IPRBooks-68498
68498

    Малышев, Л. Г.
    Физика атома и ядра [Электронный ресурс] : учебное пособие / Малышев Л. Г. - Екатеринбург : Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014. - 144 с. - ISBN 978-5-7996-1283-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.383я73

Кл.слова (ненормированные):
оптический спектр -- опыт резерфорда -- рентгеновское излучение -- тепловое излучение -- физика атома -- физика ядра -- формула планка -- эффект комптона
Аннотация: В работе обсуждаются основные вопросы атомной и ядерной физики и рассматриваются возможности их экспериментального исследования с использованием современных многофункциональных лабораторных комплексов. Эти комплексы позволяют изучать особенности теплового излучения, законы фотоэффекта, закономерности спектров атомов и молекул. Применение компьютерного моделирования дает возможность реализовать опыты Резерфорда по рассеянию α-частиц на атомах, изучать комптоновское рассеяние и целый ряд других явлений.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Повзнер, А. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

3.
IPRBooks-63921
63921

    Барсуков, В. И.
    Физика. Элементы атомной физики, физики ядра, физики твёрдого тела и жидкости [Электронный ресурс] : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по техническим направлениям подготовки и специальностям / Барсуков В. И. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2014. - 112 с. - ISBN 978-5-8265-1250-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомная физика -- постулат бора -- принцип паули -- рентгеновское излучение -- твёрдое тело -- физика -- физика атома -- физика жидкости -- физика ядра -- энергетический уровень
Аннотация: Представляет собой материал по разделу «Строение и физические свойства вещества» курса общей физики, читаемого для студентов бакалавриата в соответствии с программой ФГБОУ ВПО. Рассмотрены основные понятия, связанные со строением атома и атомного ядра, с оптическими свойствами молекул, взаимодействием света с веществом, структурой вещества, теорией физики твёрдого тела и жидкости, с элементами квантовой физики. Приведены примеры решения задач и вопросы для самопроверки. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по техническим направлениям подготовки и специальностям.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Дмитриев, О. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

4.
IPRBooks-95819
95819

   
    Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2019. - 146 с. - ISBN 978-5-9275-3202-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
детектор -- монохроматор -- рентгеновская спектроскопия -- рентгеновское излучение -- фотоэлектронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит изложение материала, входящего в учебную программу курсов «Специальный физический практикум», «Физика рентгеновских лучей», «Синхротронное излучение в исследовании материалов», изучаемых студентами специальностей «Физика конденсированного состояния», «Физика», «Физика, химия и технология функциональных материалов» физического факультета и НИИ физики Южного федерального университета. Содержит контрольные вопросы и проектные задания. Предназначено для студентов, которые обучаются по программам бакалавриата и магистратуры в области физики конденсированного состояния, материаловедения, нанотехнологий. Создано при поддержке Южного федерального университета (ВнГр-07/2017-30).

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.; Мазурицкий, М. И.; Козаков, А. Т.; Шматко, В. А.; Кременная, М. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

5.
IPRBooks-87494
87494

   
    Синхротронное рентгеновское излучение и его применение для исследования почв и растений: возможности и перспективы [Электронный ресурс] : учебное пособие / Минкина Т. М. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2018. - 108 с. - ISBN 978-5-9275-2437-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 40.3

Кл.слова (ненормированные):
исследование почвы -- исследование ризосферы -- метод спектроскопии -- рентгеновская микрофлуоресценция -- рентгеновское излучение -- рентгеновское поглощение -- синхротронное излучение -- тяжелый металл
Аннотация: В учебном пособии освещается применение инструментальных высокотехнологичных методов рентгеновского синхротронного излучения для исследования почв и растений. Особое внимание уделяется возможностям практического применения новейших методов рентгеноспектральной диагностики для исследования почвенных и растительных объектов на молекулярном и атомарном уровне. Учебное пособие предназначено для студентов магистратуры, обучающихся по направлению 06.04.02 «Управление и оценка земельных ресурсов», а также для студентов естественных факультетов, специализирующихся в области охраны окружающей среды.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Минкина, Т. М.; Солдатов, А. В.; Невидомская, Д. Г.; Цицуашвили, В. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

6.
IPRBooks-84016
84016

    Беспалов, В. И.
    Лекции по радиационной защите [Электронный ресурс] : учебное пособие / Беспалов В. И. - Томск : Томский политехнический университет, 2017. - 695 с. - ISBN 978-5-4387-0786-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 51.26

Кл.слова (ненормированные):
безопасность -- защита -- радиационная защита -- радиация -- рентгеновское излучение
Аннотация: В пособии рассмотрены физические величины в области защиты от излучений, нормы радиационной безопасности, методы расчета защиты от гамма-излучения радионуклидных источников, рентгеновского и тормозного излучения, защита ускорителей заряженных частиц, радиационные условия при космических полетах, защита от нейтронов, основные правила безопасной работы с ионизирующими излучениями. Пособие содержит большое количество таблиц и номограмм, необходимых для проведения расчетов защиты. Предназначено для студентов, бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности «Радиационная безопасность человека и окружающей среды».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

7.
IPRBooks-98052
98052

    Иванов, А. Н.
    Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 79 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллическая структура -- материал -- реальный кристалл -- рентгеновское излучение -- субструктура
Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Поляков, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

8.
IPRBooks-98065
98065

    Бублик, В. Т.
    Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур [Электронный ресурс] : учебное пособие / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2001. - 100 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
деформация -- дифракционный метод -- поверхностный слой -- приборная структура -- рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Щербачев, К. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
Статистика
за 10.05.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)